浅谈RFID技术在变电设备巡检中的应用

浅谈此外通过EAXFS证明了富含缺陷的四氧化三钴中的Co具有更低的配位数。

该工作使用多孔碳纳米纤维硫复合材料作为锂硫电池的正极，技术检中在大倍率下充放电时，技术检中利用原位TEM观察材料的形貌变化和硫的体积膨胀，提供了新的方法去研究硫的电化学性能并将其与体积膨胀效应联系在了一起。此外，电设结合各种研究手段，与多学科领域相结合、相互佐证给出完美的实验证据来证明自己的观点更显得尤为重要。

密度泛函理论计算（DFT）利用DFT计算可以获得体系的能量变化，备巡从而用于计算材料从初态到末态所具有的能量的差值。散射角的大小与样品的密度、浅谈厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。最近，技术检中晏成林课题组（NanoLett.,2017,17,538-543）利用原位紫外-可见光光谱的反射模式检测锂硫电池充放电过程中多硫化物的形成，技术检中根据图谱中不同位置的峰强度实时获得充放电过程中多硫化物种类及含量的变化，如图四所示。

Figure1.AnalysisofO-vacancydefectsonthereducedCo3O4nanosheets.(a)CoK-edgeXANESspectra,indicatingareducedelectronicstructureofreducedCo3O4.(b)PDFanalysisofpristineandreducedCo3O4nanosheets,suggestingalargevariationofinteratomicdistancesinthereducedCo3O4structure.(c)CoK-edgeEXAFSdataand(d)thecorrespondingk3-weightedFourier-transformeddataofpristineandreducedCo3O4nanosheets,demonstratingthatO-vacancieshaveledtoadefect-richstructureandloweredthelocalcoordinationnumbers.XRDXRD全称是X射线衍射，电设即通过对材料进行X射线衍射来分析其衍射图谱，电设以获得材料的结构和成分，是目前电池材料常用的结构组分表征手段。材料结构组分表征目前在储能材料的常用结构组分表征中涉及到了XRD,NMR,XAS等先进的表征技术，备巡此外目前的研究也越来越多的从非原位的表征向原位的表征进行过渡。

它不仅反映吸收原子周围环境中原子几何配置，浅谈而且反映凝聚态物质费米能级附近低能位的电子态的结构，浅谈因此成为研究材料的化学环境及其缺陷的有用工具。

该研究工作利用了XANES等技术分析了富含缺陷的四氧化三钴的化学环境，技术检中从而证明了其中氧缺陷的存在及其相对含量。电设Fig.3Collectedin-situTEMimagesandcorrespondingSAEDpatternswithPCNF/A550/S,whichpresentstheinitialstate,fulllithiationstateandhighresolutionTEMimagesoflithiatedPCNF/A550/SandPCNF/A750/S.材料物理化学表征UV-visUV-visspectroscopy全称为紫外-可见光吸收光谱。

这些条件的存在帮助降低了表面能，备巡使材料具有良好的稳定性。通过在充放电过程中小分子蒽醌与可溶性多硫化锂发生化学性吸附，浅谈形成无法溶解于电解液的不溶性产物，浅谈从而实现对活性物质流失的有效抑制，显著地增加了电池的寿命。

近日,Ceder课题组在新型富锂材料正极的研究中（Nature2018,556,185-190）取得了重要成果，技术检中如图五所示。在锂硫电池的研究中，电设利用原位TEM来观察材料的形貌和物相转变具有重要的实际意义。